该技术发现导电回路外部发烧缺陷，十分直观有用且判断准确成熟，但对电气装备内部尽缘整体受潮、老化、介损、内部毗连件接触不良及其他内部缺陷，则可能因无温度突变且温差很小，加上热像仪分辨率、情况条件变化、人员技术水平及对装备结构领会水平等身分的影响，较难准确分析判断，现场监测时内部缺陷易被轻忽。

低压电容器内部的电介质或载流导体四周电气尽缘的电介质在交流电压作用下引发的能量消耗(介质消耗)，即使在正常状态下，装备内部的介质和导体周围的尽缘介质在交流电压作用下，也会有介质消耗发烧。当尽缘介质的尽缘性能泛起缺陷时，会引发介质消耗，致使介质消耗发烧功率增加，从而引发装备运行温度增加。